• P. Klein;・ドイツ• C. Coupry,他；フランス• M. de Keijzer・，オランダ• G. WG. Wechsung echsung,他；アメリカ• M. C. Popillon,他．，フランス• A. J. Kossolapav ;ソビエト• M. Jaro,他；ハンガリー• J. R. Lancelot,他；フランス• J. Winter・，アメリカ・A.Unger,他；ドイツ・J.M. Taylor ;カナダ絵画表層の劣化の分類2).顔料の産地分析と板材の年代測定15から17世紀板絵の樹木年代学的な年代測定板絵の白色顔料の産地分析・鉛白板絵の白色顔料の産地分析・チタニウム白3).有機顔料の分析東洋絵画の有機顔料・ガンボージュの分析クロスセクションノ近代有機顔料微量分析4).調査に応用される新しい方法赤外反射スペクトル測定におけるポータブルコンピューターの利用・三浦定俊；日本エミッショグラフィおよび赤外線反射撮影法による装飾柱の調査木材保存におけるX線コンピューター・トモグラフィ美術品の記録および複製に対するレーザー掃引法の利用5).分析に応用される新しい方法絵画層薄片断面の透過型電子顕微鏡分析画面の非破壊X線回折に於けるカメラ焦点・小谷野匡子，他；日本非破壊X線回折法による結晶分析-253-
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